「半导体专题讲座」芯片测试（Test）

半导体测试工艺FLOW

为验证每道工序是否正确执行半导体将在室温（25摄氏度）下进行测试。测试主要包括Wafer Test、封装测试、 模组测试。

Burn-in/Temp Cycling是一种在高温和低温条件下进行的可靠性测试，初只在封装测试阶段进行，但随着晶圆测试阶段的重要性不断提高，许多封装Burn-in项目都转移到WBI（Wafer Burn-in）中。此外，将测试与Burn-in结合起来的TDBI（Test During Burn-in）概念下进行Burn-in测试，正式测试在Burn-in前后进行的复合型测试也有大量应用的趋势。这将节省时间和成本。模组测试（Module Test）为了检测PCB（Printed Circuit Board)和芯片之间的关联关系，在常温下进行直流（DC/ Direct Current）直接电流/电压）/功能（Function）测试后，代替Burn-in，在模拟客户实际使用环境对芯片进行测试，市面上导电胶分多种，而其中专业内存存储测试这块的，就是导电胶测试垫片。智能导电胶设计

关于半导体工艺这点你要知道 (6)薄膜沉积工艺

大家好！半导体工序中的第六道工序，即薄膜沉积工艺（Thin film deposition）时间。完成蚀刻（Etching）工艺的晶片现在穿上了薄膜的衣服；薄膜是指1微米以下的薄膜。当你把这些薄膜涂在晶片上时，它就会产生电学特性。一起了解更多详细内容吧？！

1. 薄膜覆盖

如上所述，薄膜指的是真正的薄膜。如果你想到如何覆盖比晶片更薄的膜，沉积工艺真的很令人困惑。在半径为100mm的晶片上覆盖1μm薄膜，就像是要在半径为100m的土地上精细地涂上比胶带厚度还薄的膜，你是不是真的很迷茫？因此，这些薄膜工艺需要非常精确和细致的工作。就像所有的半导体工艺一样。智能导电胶设计为了测试封装的半导体芯片，我们把芯片和电气连接在一起的介质称为测试座。

关于半导体工艺这点你要知道 (6)薄膜沉积工艺

2. PVD和CVD首先制作薄膜的方法主要分为两类：物相沉积PVD(Physical Vapor Deposition)和化学汽相淀积CVD(Chemical Vapor Deposition)。两种方法的区别在于“物理沉积还是化学沉积”。物相沉积（PVD）又大致分为热蒸发法（Thermal evaporation）、电子束蒸发法（E-beam evaporation）和溅射法（Sputtering）。这么一说是不是已经迷茫了？

之所以有这么多方法，是因为每种方法使用的材料不同，优缺点也不尽相同。

首先物相沉积（PVD）主要用于金属薄膜沉积，特点是不涉及化学反应；用物理方法沉积薄膜。让我们来看看其中的一个：反应溅射（Sputtering）。

溅射法（Sputtering）是一种用氩(Ar)气沉积的方式。首先真空室中存在Ar气体和自由电子，如果你给氩（Ar）气体施加一个高电压它就会变成离子。我们在我们需要沉积的基板上施加（+）电压，在我们想要沉积的材料的目标层上施加（-）电压。自由电子和氩（Ar）气体之间的碰撞导致离子化的会碰撞到（-）Target层，然后Target材料分离并沉积到基板(Substrate)上。然后氩（Ar）和自由电子不断发生碰撞沉积继续进行。

「半导体专题讲座」芯片测试（Test）

2.半导体测试（工艺方面）：WaferTest/PackageTest/ModuleTest

包装测试(Package Test)也包括可靠性测试，但它被称为终测试是因为它是在产品出厂前对电气特性进行的终测试（Final Test)。包装测试是重要的测试过程，包括所有测试项目。首先在DC/AC测试和功能（Function）测试中判定良品（Go）/次品（No-Go）后，在良品中按速度划分组别的Speed Sorting（ex.DRAM)模组测试（Module Test）是指在PCB上安装8-16个芯片后进行的，因此也称为上板测试（Board Test）。Module Test在DC/Function测试后进行现场测试，以确保客户能够在实际产品使用环境中筛选芯片。如果在这个过程中发现了不良的芯片，就可以换成良品芯片重新组成模块。致力国内存储半导体企业和电子产品生产企业提供及时，优良，完善的测试平台，能够为企业创造更多商业契机。

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「半导体工程」半导体？这点应该知道：（8）Wafer测试&打包工程

晶圆测试工艺的四个步骤

3)维修和终测试（Repair&FinalTest）

因为某些不良芯片是可以修复的，只需替换掉其中存在问题的元件即可，维修结束后通过终测试（FinalTest）验证维修是否到位，终判断是良品还是次品。

4)点墨（Inking）

顾名思义就是“点墨工序”。就是在劣质芯片上点特殊墨水，让肉眼就能识别出劣质芯片的过程，过去点的是实际墨水，现在不再点实际墨水，而是做数据管理让不合格的芯片不进行组装，所以在时间和经济方面都有积极效果，完成Inking工序后，晶片经过质量检查后，将移至组装工序。智能导电胶设计

深圳市革恩半导体有限公司位于深圳市宝安区西乡街道桃源社区臣田航城工业区A1栋305南边，是一家专业的革恩半导体业务领域：1. 测试设备01. 基于英特尔平台开发DDR及LPDDR颗粒及模组测试仪器，并可根据客户需求进行固 件及软件调试02. 基于MTK平台开发LPDDR、EMMC、UFS测试仪器，并可根据客户需求进行固件及软件调试现有P60、P90、G90、20M、21M平台测试仪器已开发完成及开发中03.高低温测试设备及量产设备2. Burn-in Board(测试烧入机）测试仪器配件－导电胶、测试座子、探针04.DDR测试、导电胶芯片测试、技术服务支持、支持研发服务公司。GN是深圳市革恩半导体有限公司的主营品牌，是专业的革恩半导体业务领域：1. 测试设备01. 基于英特尔平台开发DDR及LPDDR颗粒及模组测试仪器，并可根据客户需求进行固 件及软件调试02. 基于MTK平台开发LPDDR、EMMC、UFS测试仪器，并可根据客户需求进行固件及软件调试现有P60、P90、G90、20M、21M平台测试仪器已开发完成及开发中03.高低温测试设备及量产设备2. Burn-in Board(测试烧入机）测试仪器配件－导电胶、测试座子、探针04.DDR测试、导电胶芯片测试、技术服务支持、支持研发服务公司，拥有自己的技术体系。公司以用心服务为重点价值，希望通过我们的专业水平和不懈努力，将革恩半导体业务领域：1. 测试设备01. 基于英特尔平台开发DDR及LPDDR颗粒及模组测试仪器，并可根据客户需求进行固 件及软件调试02. 基于MTK平台开发LPDDR、EMMC、UFS测试仪器，并可根据客户需求进行固件及软件调试现有P60、P90、G90、20M、21M平台测试仪器已开发完成及开发中03.高低温测试设备及量产设备2. Burn-in Board(测试烧入机）测试仪器配件－导电胶、测试座子、探针04.DDR测试、导电胶芯片测试、技术服务支持、支持研发服务等业务进行到底。深圳市革恩半导体有限公司主营业务涵盖芯片导电胶测试垫片，DDR测试、LPDDR测，内存测试仪器，内存颗粒内存条测试，坚持“质量保证、良好服务、顾客满意”的质量方针，赢得广大客户的支持和信赖。

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